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IEC 60191-2 AMD 5-2002 半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸

作者:标准资料网 时间:2024-05-11 15:17:52  浏览:9489   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part2:Dimensions
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸
【标准号】:IEC60191-2AMD5-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:作标记;电子工程;电气外壳;半导体;尺寸;电气工程;电子设备及元件;半导体器件;外壳;符号;集成电路
【英文主题词】:Dimensions;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Integratedcircuits;Marking;Semiconductordevices;Semiconductors;Symbols
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:WirelessFeatures:PasswordCallAcceptance
【原文标准名称】:无线电通信特征:口令呼叫接收
【标准号】:ANSI/TIA-664-515-A-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:移动无线电通信系统;无线电工程;电信
【英文主题词】:Features;Mobileradiosystems;Radioengineering;Telecommunications;Wireless
【摘要】:
【中国标准分类号】:M36
【国际标准分类号】:33_070_50
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringTransistorandDiodeLeakageCurrents
【原文标准名称】:测量晶体管及二极管漏电的方法
【标准号】:ASTMF769-1991
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1991
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;二极管;漏电;晶体管;测量;电子工程
【英文主题词】:diodes;transistors;electronicengineering;measurement;leakagecurrent;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语